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薄膜測厚儀
簡(jiǎn)要描述：CH-1-ST型薄膜測厚儀:本測厚議適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。 本測厚儀執行GB-T6672-2001標準。
產(chǎn)品型號：CH-1-S- 廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
- 更新時(shí)間：2023-11-09
- 訪(fǎng) 問(wèn) 量：1209
CH-1-S薄膜測厚儀的詳細資料：
CH-1-ST型薄膜測厚儀:
本測厚議適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。
本測厚儀執行GB-T6672-2001標準。
技術(shù)參數：◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm
◎上測頭曲率半徑:15-50mm
◎測頭對試樣施加負荷:0.1-0.5N
◎測量精度: 100vm以?xún)?nbsp;<1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm
◎執行標準:GB6672-86
◎本測厚儀適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片).
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